dc.contributor.advisor | Ψαράκης, Μιχαήλ | |
dc.contributor.author | Τσώνη, Παναγιώτα Ε. | |
dc.date.accessioned | 2012-09-07T08:18:26Z | |
dc.date.available | 2012-09-07T08:18:26Z | |
dc.date.issued | 2012-09-07T08:18:26Z | |
dc.identifier.uri | https://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/4915 | |
dc.description.abstract | Ως απλή προσωρινή διαταραχή (Single Event Upset - SEU) ορίζεται η αλλαγή κατάστασης, σε κόμβο ενός ηλεκτρονικού κυκλώματος, που προκαλείται από την σύγκρουση του τελευταίου, με φορτισμένα σωματίδια της ατμόσφαιρας. Η σύγκρουση εκλύει τόση ενέργεια, ώστε να προξενήσει διαταραχή στο σύστημα που την επιδέχεται. Τα τελευταία χρόνια, οι επιπτώσεις των SEUs στα κυκλώματα γίνονται ολοένα και σημαντικότερες, λόγω των τεχνολογικών εξελίξεων στην διαδικασία κατασκευής των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων. Οι ερευνητές λοιπόν αναζητούν μεθόδους ανοχής σφαλμάτων, ώστε τα νέα συστήματα να μπορούν να αποδώσουν την ορθή λειτουργία τους ακόμα και υπό την επήρεια SEUs. Στην παρούσα μεταπτυχιακή διατριβή δημιουργήθηκε εφαρμογή, στην οποία είναι εφικτή η εισαγωγή SEUs και η παρατήρηση της αντίδρασης του κυκλώματος. Το σύστημα αποτελείται από δύο μέρη. Το πρώτο φέρει τον SEU Controller της XILINX ο οποίος προγραμματίζεται μέσω του PicoBlaze, ενός ενσωματωμένου μικροεπεξεργαστή, με στόχο την εισαγωγή, ανίχνευση και διόρθωση προσωρινών σφαλμάτων στην συσκευή. Το δεύτερο μέρος φέρει έναν ακόμα PicoBlaze ο οποίος ελέγχει την LCD οθόνη της συσκευής. Ουσιαστικά, φροντίζει για την κύλιση ενός μηνύματος στην οθόνη και αποτελεί το κύριο μέρος του κυκλώματος που επιδέχεται τα σφάλματα από τον SEU Controller. Η εφαρμογή υλοποιήθηκε σε FPGA συσκευή της XILINX (VIRTEX-5 ML505), στην οποία εισήχθη πληθώρα SEUs σε καθορισμένες περιοχές της μνήμης διαμόρφωσης, με στόχο να παρατηρηθεί η αντίδραση του κυκλώματος και να εντοπιστούν τα κρίσιμα σημεία της σχεδίασης. | |
dc.language.iso | el | |
dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.el | |
dc.subject | Digital integrated circuits -- Design and construction | |
dc.subject | Logic design | |
dc.subject | Microelectronics | |
dc.subject | Electric discharges | |
dc.title | Τεχνικές εισαγωγής, ανίχνευσης και διόρθωσης προσωρινών σφαλμάτων σε προγραμματιζόμενες συσκευές λογικής Xilinx Virtex-5 | |
dc.type | Master Thesis | |
europeana.isShownAt | https://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/4915 | |
dc.identifier.call | 621.3815 ΤΣΩ | |
dc.description.abstractEN | Single Event Upsets (SEUs) are transient faults that appear in semiconductor devices. SEUs occur when charged particles hit the silicon transferring enough energy in order to provoke a fault in the system. The main consequences of the transient effect are ψηφίο flips in the memory elements. SEUs have been constantly magnified the last years, due to the continuous technology evolution that has led to highly complex architectures, which integrate a large amount of embedded memories, followed by an amazing downscaling of transistor feauture sizes. So protecting integrated circuits against upsets has become imperative need. For that reason, researchers have proposed fault tolerant techniques that maintain the reliable operation of ICs despite the existence of upsets. Our aim was to create an application, in which we could implement SEUs and observe the reaction of the device. The application consists of two different circuits. The first one combines an SEU Controller macro from XILINX and a soft core called PicoBlaze and it is responsible for injecting, detecting and correcting SEUs in the device. The second circuit is the main application and combines a second PicoBlaze with an LCD Controller. The circuit is responsible for shifting a message to the LCD display of the device and it is the main area that the SEUs are taking place. The application implemented in an FPGA device from XILINX (VIRTEX-5 ML505) and we injected SEUs at specific locations of the configuration map and then observe the reaction and the critical areas of the design. | |