Διαγράμματα ελέγχου για υψηλής απόδοσης διεργασίες
| dc.contributor.author | Αβράμπος, Δημήτριος Β. | |
| dc.date.accessioned | 2007-11-01T12:09:24Z | |
| dc.date.available | 2007-11-01T12:09:24Z | |
| dc.date.issued | 2007-11-01T12:09:24Z | |
| dc.identifier.uri | https://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/1991 | |
| dc.description.abstract | Στην παραγωγή, πολλές διεργασίες εμφανίζουν πολύ χαμηλά επίπεδα ελαττωματικών προϊόντων λόγω της προόδου που έχει συντελεστεί στην αυτοματοποίηση της παραγωγής. Σε αυτές τις περιπτώσεις το ποσοστό των ελαττωματικών προϊόντων είναι p και τα n και np διαγράμματα τύπου Shewhart, τα οποία συνήθως χρησιμοποιούνται για την παρακολούθηση του ποσοστού των ελαττωματικών προϊόντων, δεν είναι κατάλληλα για υψηλής απόδοσης διεργασίες. Ο Goh (1987) έδειξε ότι η χρήση αυτών των διαγραμμάτων έχει ως αποτέλεσμα υψηλά ποσοστά λανθασμένων συναγερμών και μειωμένη ικανότητα στην ανίχνευση βελτίωσης στην παραγωγική διεργασία. Στη βιβλιογραφία, τα περισσότερα διαγράμματα για την παρακολούθηση της υψηλής ποιότητας διεργασιών βασίζονται στο μοντέλο της γεωμετρικής κατανομής, δηλαδή στον αριθμό των προϊόντων που επιθεωρούνται μέχρι την εμφάνιση ενός ελαττωματικού. Σκοπός της διπλωματικής εργασίας είναι η καταγραφή και η παρουσίαση των βασικών διαγραμμάτων που χρησιμοποιούνται σε τέτοιες περιπτώσεις παραγωγικών διεργασιών (Cumulative Count of Conforming (CCC) chart, Geometric control chart), η παρουσίαση των ιδιοτήτων τους και η σύγκρισή τους. | |
| dc.language.iso | el | |
| dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές | |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.el | |
| dc.subject | Production management -- Quality control -- Statistical methods | |
| dc.subject | Quality control | |
| dc.title | Διαγράμματα ελέγχου για υψηλής απόδοσης διεργασίες | |
| dc.type | Master Thesis | |
| europeana.isShownAt | https://dione.lib.unipi.gr/xmlui/handle/unipi/1991 | |
| europeana.type | IMAGE | |
| dc.identifier.call | 658.5'62 ΑΒΡ | |
| dc.description.abstractEN | High yield production processes that involve a low fraction of non-conforming are becoming more common. In these cases, the fraction of non-conforming is 0.001 and n-np Shewhart control charts are unsatisfactory for monitoring high quality processes. Since they grow many false alarm signals and are not able to detect improvement of the process. In the literature, most charts for monitoring high quality processes are based on the geometric distribution, that is are based on the number of items inspected until one non-conforming item is observed. The aim of this dissertation is to review and present the use of basic charts in these industrial processes (Cumulative Count of Conforming (CCC), Geometric control chart), to establish their characteristics and make comparisons. |
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
-
Τμήμα Στατιστικής και Ασφαλιστικής Επιστήμης
Department of Statistics & Insurance Science
Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 4.0 Διεθνές