• Development of a soft error vulnerability analysis framework for FPGA devices 

      Αγιακάτσικας, Δημήτριος Σ. (2014-11-24)
      Καθώς το μέγεθος των χαρακτηριστικών των FPGA κινείται επιθετικά στην περιοχή των νανομέτρων, τα μεμονωμένα σφάλματα αναμένονται να γίνουν μείζον ανησυχία για την αξιοπιστία των SRAM FPGA. Λόγω των περιορισμένων πληροφοριών ...

      Βιβλιοθήκη Πανεπιστημίου Πειραιώς
      Επικοινωνήστε μαζί μας
      Στείλτε μας τα σχόλιά σας
      Created by ELiDOC
      Η δημιουργία κι ο εμπλουτισμός του Ιδρυματικού Αποθετηρίου "Διώνη", έγιναν στο πλαίσιο του Έργου «Υπηρεσία Ιδρυματικού Αποθετηρίου και Ψηφιακής Βιβλιοθήκης» της πράξης «Ψηφιακές υπηρεσίες ανοιχτής πρόσβασης της βιβλιοθήκης του Πανεπιστημίου Πειραιώς»